纳米技术中心2003级硕士研究生课程 TEM法 该方法是一种颗粒度观 察测定的绝对方法,因而具 有可靠性和直观性。由于电 镜观察用的粉末数量极少, 因此此法不具有统计性。 用电镜测量粒径的方法 是首先尽量多拍摄有代表性 的纳米微粒形貌像,然后由 这些电镜照片来测量粒径, 测量方法有以下几种:
纳米技术中心 2003级硕士研究生课程 TEM 法 该方法是一种颗粒度观 察测定的绝对方法，因而具 有可靠性和直观性。由于电 镜观察用的粉末数量极少， 因此此法不具有统计性。 用电镜测量粒径的方法 是首先尽量多拍摄有代表性 的纳米微粒形貌像，然后由 这些电镜照片来测量粒径， 测量方法有以下几种： 下一页 回目录页
纳米技术中心2003级硕士研究生课程 TEM法 A.交叉法:用尺任意地测量约600个颗粒的交叉长 度,然后将交叉长度的算术平均值乘上一统计因子 156)来获得平均粒径; B.测量约100颗粒中每个颗粒的最大交叉长度,纳米 微粒粒径为这些交叉长度的算术平均值。 ·C.求出纳米微粒的粒径或等当粒径,画出粒径与不同 粒径下的微粒数的分布图,如图22所示,将分布曲线 中峰值对应的颗粒尺寸作为平均粒径。用此种方法则 得的颗粒粒径,不一定是一次颗粒,往往是由更小的 晶体或非晶,准晶微粒构成的纳米级微粒。这是因为 在制备电镜观察用的样品时,很难使它们全部分散成 次颗粒
纳米技术中心 2003级硕士研究生课程 TEM法 • A．交叉法：用尺任意地测量约600个颗粒的交叉长 度，然后将交叉长度的算术平均值乘上一统计因子 (1.56)来获得平均粒径； • B．测量约100颗粒中每个颗粒的最大交叉长度，纳米 微粒粒径为这些交叉长度的算术平均值。 • C．求出纳米微粒的粒径或等当粒径，画出粒径与不同 粒径下的微粒数的分布图，如图2.2所示，将分布曲线 中峰值对应的颗粒尺寸作为平均粒径。用此种方法则 得的颗粒粒径，不一定是一次颗粒，往往是由更小的 晶体或非晶，准晶微粒构成的纳米级微粒。这是因为 在制备电镜观察用的样品时，很难使它们全部分散成 一次颗粒。 下一页 回目录页