■如果误差项有一阶负自相关性,那么相 邻误差项异号的机会增大,因此残差分 布会出现类似图7.1(C)的形态 还可以用另一种残差序列图发现误差序 列相关问题。以e-1为横轴,以e,为纵轴, 用相邻残差项构成坐标,然后观察这些 坐标的分布情况
11 ◼ 如果误差项有一阶负自相关性，那么相 邻误差项异号的机会增大，因此残差分 布会出现类似图7.1（c）的形态。 ◼ 还可以用另一种残差序列图发现误差序 列相关问题。以 为横轴，以 为纵轴， 用相邻残差项构成坐标 ，然后观察这些 坐标的分布情况。 i−1 e i e
图72分析误差序列相关残差分布图 ●●
12 图7.2 分析误差序列相关残差分布图 0 0 0 (a) (b) (c) i e i e i−1 e i−1 e i−1 e
■如果这些坐标如图7.2(a)那样均匀地 分布在四个象限内,应认为不存在误差 序列相关问题 ■如果坐标分布如图72(b)和(C),那 么应分别判断有一阶正自相关性和一阶 负自相关性,因为(b)图坐标分布落在 象限多意味着相邻残差同号的居 多,而(C)图坐标分布落在二、四象限 多则意味着相邻残差异号居多 13
13 ◼ 如果这些坐标如图7.2（a）那样均匀地 分布在四个象限内，应认为不存在误差 序列相关问题。 ◼ 如果坐标分布如图7.2（b）和（c），那 么应分别判断有一阶正自相关性和一阶 负自相关性，因为（b）图坐标分布落在 一、三象限多意味着相邻残差同号的居 多，而（c）图坐标分布落在二、四象限 多则意味着相邻残差异号居多
杜宾一瓦森检验(DW检验) ■DW检验也是一种残差序列分析,因为用于检 验的DW统计量是根据回归残差序列计算的 DW检验的方法是,首先假设线性回归模型 Y=B+BX1+…+BkXk+E 有一阶自回归问题,即E=pE-1+E ■然后检验一阶自回归系数ρ的显著性。如果检 验结果是显著的,那么认为误差项有一阶自回 归性,否则认为误差项没有一阶自回归性。 14
14 二、杜宾—瓦森检验（DW检验） ◼ DW检验也是一种残差序列分析，因为用于检 验的DW统计量是根据回归残差序列计算的。 ◼ DW检验的方法是，首先假设线性回归模型 有一阶自回归问题，即 。 ◼ 然后检验一阶自回归系数 的显著性。如果检 验结果是显著的，那么认为误差项有一阶自回 归性，否则认为误差项没有一阶自回归性。 = + + + + Y 0 1 X1 K X K i i i = + −1