第一节基本原理 (5)基态原子数 谱线强度与基态原子数成正比。在一定的条 件下，基态原子数与试样中该元素浓度成正比。 因此，在一定的条件下谱线强度与被测元素浓度 成正比，这是光谱定量分析的依据。 四、谱线的自吸与自蚀 在实际工作中，发射光谱是通过物质的蒸发 激发、迁移和射出弧层而得到的。首先，物质在 光源中蒸发形成气体，由于运动粒子发相互碰撞 和激发， 16
16 第一节 基本原理 （5）基态原子数 谱线强度与基态原子数成正比。在一定的条 件下，基态原子数与试样中该元素浓度成正比。 因此，在一定的条件下谱线强度与被测元素浓度 成正比，这是光谱定量分析的依据。 四、谱线的自吸与自蚀 在实际工作中，发射光谱是通过物质的蒸发、 激发、迁移和射出弧层而得到的。首先，物质在 光源中蒸发形成气体，由于运动粒子发相互碰撞 和激发
第一节 基本原理 使气体中产生大量的分子、原子、离子、电子等粒子， 这种电离的气体在宏观上是中性的，称为等离子体。 在一般光源中，是在弧焰中产生的，弧焰具有一定的 厚度，如下图： 17
17 第一节 基本原理 使气体中产生大量的分子、原子、离子、电子等粒子， 这种电离的气体在宏观上是中性的，称为等离子体。 在一般光源中，是在弧焰中产生的，弧焰具有一定的 厚度，如下图： a b
第一节基本原理 弧焰中心a的温度最高，边缘b的温度较低。由弧焰 中心发射出来的辐射光，必须通过整个弧焰才能射 出，由于弧层边缘的温度较低，因而这里处于基态 的同类原子较多。这些低能态的同类原子能吸收高 能态原子发射出来的光而产生吸收光谱。原子在高 温时被激发，发射某一波长的谱线，而处于低温状 态的同类原子又能吸收这一波长的辐射，这种现象 称为自吸现象。 弧层越厚，弧焰中被测元素的原子浓度越大， 则自吸现象越严重。 18
18 第一节 基本原理 弧焰中心a的温度最高，边缘b的温度较低。由弧焰 中心发射出来的辐射光，必须通过整个弧焰才能射 出，由于弧层边缘的温度较低，因而这里处于基态 的同类原子较多。这些低能态的同类原子能吸收高 能态原子发射出来的光而产生吸收光谱。原子在高 温时被激发，发射某一波长的谱线，而处于低温状 态的同类原子又能吸收这一波长的辐射，这种现象 称为自吸现象。 弧层越厚，弧焰中被测元素的原子浓度越大， 则自吸现象越严重
第一节 基本原理 当低原子浓度时，谱线不呈现自吸现象；原子浓 度增大，谱线产生自吸现象，使其强度减小。由于 发射谱线的宽度比吸收谱线的宽度大，所以，谱线 中心的吸收程度要比边缘部分大，因而使谱线出现 “边强中弱”的现象。当自吸现象非常严重时，谱 线中心的辐射将完全被吸收，这种现象称为自蚀。 1,无自吸： 2,自吸 3,自蚀 19
19 第一节 基本原理 当低原子浓度时，谱线不呈现自吸现象；原子浓 度增大，谱线产生自吸现象，使其强度减小。由于 发射谱线的宽度比吸收谱线的宽度大，所以，谱线 中心的吸收程度要比边缘部分大，因而使谱线出现 “边强中弱”的现象。当自吸现象非常严重时，谱 线中心的辐射将完全被吸收，这种现象称为自蚀。 I 1 2 3 1，无自吸； 2，自吸； 3，自蚀
第一节基本原理 Self-absorption Absorption line Concentration Emission Self-absorbed line emission line Effect on calibration 20
20 第一节 基本原理