应用实例三In-situ high-TXRD- 2242 TisSis (3251) Intensity(arbitary unit) *L.T.Zhang and J.S.Wu,Scripta 0.755 200 400 Materialia,38(1998)307 TSia 59 60 61 0.750 29 64 65 1000 66 0.745 0.520 0.740 0.515 ● a-axis c-axis 0.735 0.510 0 200 400 600 800 1000 0 200 400 600 800 1000 Temperature(C) Temperature(C)
*L.T. Zhang and J.S. Wu, Scripta Materialia, 38(1998)307 应用实例三 In-situ high-T XRD- Ti5Si3
可通过点阵常数的变化揭示上述问题 的物理本质及变化规律。 在这些过程中，点阵常数的变化一般 都是很小（约为10-5nm数量级），因此必须 对点阵常数进行精密测定
• 可通过点阵常数的变化揭示上述问题 的物理本质及变化规律。 • 在这些过程中，点阵常数的变化一般 都是很小(约为10-5nm数量级)，因此必须 对点阵常数进行精密测定
用X射线衍射法测定点阵常数的依据 是衍射线的位置，即20角，在衍射花样 已指标化的其础上，可通过布拉格方程 和晶面间距公式计算点阵常数。 立方晶系的点阵常数的计算公式为 2ingVKL
用X射线衍射法测定点阵常数的依据 是衍射线的位置，即2θ角，在衍射花样 已指标化的其础上，可通过布拉格方程 和晶面间距公式计算点阵常数。 立方晶系的点阵常数的计算公式为
The problem and importance of h indexing d*(62 a* (00)G ● ----O-O-0--O0O0⊙--●O0---->1/d=2sin0/nλ 0 1/d32
The problem and importance of indexing
Profile 11 Strongest 3 peaks no.peak 2Theta d I/I1 FWHM no. (deg) (A) (deg) 1 28.3699 3.14332 100 0.11470 2 23 47.2380 1.92256 55 0.10980 56.0600 1.63912 36 0.10770 4000 Peak Data List peak 2Theta d I/I1 FWHM no. (deg) (A) (deg) 1 28.3699 3.14332 100 0.11470 23 47.2380 1.92256 55 0.10980 56.0600 1.63912 36 0.10770 69.0791 1.35858 8 0.11400 76.3222 1.24666 14 0.11000 220 6 87.9814 1.10905 17 0.12150 94.9030 1.04557 8 0.12970 2000 89 106.6626 0.96033 5 0.15280 114.0568 0.91816 10 0.14960 9 127.5153 0.85879 8 0.17250 4 310 136.8696 0.82826 0.18340 (400 (331) 510 (440 (6531) 20 00 20
(111) (220) (311) (400) (331) (422)(511) (440) (531) (620) (533)