、质谱仪的基本结构 质谱仪是通过对样品电离后产生的 具有不同的mz的离子来进行分离分析 的 质谱仪包括进样系统、电离系统、 质量分析系统和检测系统 为了获得离子的良好分析,避免离 子损失,凡有样品分子及离子存在和通 过的地方,必须处于真空状态 下图是单聚焦质谱仪的示意图
11 三、质谱仪的基本结构 质谱仪是通过对样品电离后产生的 具有不同的 m/z 的离子来进行分离分析 的。 质谱仪包括进样系统、电离系统、 质量分析系统和检测系统。 为了获得离子的良好分析，避免离 子损失，凡有样品分子及离子存在和通 过的地方，必须处于真空状态。 下图是单聚焦质谱仪的示意图
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通过进样系统,使微摩尔或更少的试样蒸发,并让其 慢慢地进入电离室,电离室内的压力约为103Pa。由热灯 丝流向阳极的电子流,将气态样品的原子或分子电离成 正、负离子(但一般分析正离子),在狭缝A处,以微小 的负电压将正负离子分开,此后,借助于A、B间几百至几 千伏的电压,将正离子加速,使准直于狭缝刀的正离子 流,通过狭缝B进入真空度高达105Pa的质量分析器中, 根据离子质荷比的不同,其偏转角度也不同,质荷比大 的偏转角度小,质荷比小的偏转角度大,从而使质量数 不同的离子在此得到分离。若改变粒子的速度或磁场强 度,就可将不同质量数的粒子依次焦聚在出射狭缝上。 通过出射狭缝的离子流,将落在一收集极上,这一离子流 经放大后,即可进行记录,并得到质谱图 质谱图上信号的强度,与达到收集极上的离子数目成 正比
13 通过进样系统，使微摩尔或更少的试样蒸发，并让其 慢慢地进入电离室，电离室内的压力约为10-3Pa。由热灯 丝流向阳极的电子流，将气态样品的原子或分子电离成 正、负离子（但一般分析正离子)，在狭缝A处，以微小 的负电压将正负离子分开，此后，借助于A、B间几百至几 千伏的电压，将正离子加速，使准直于狭缝刀的正离子 流，通过狭缝B进入真空度高达10-5Pa的质量分析器中， 根据离子质荷比的不同，其偏转角度也不同，质荷比大 的偏转角度小，质荷比小的偏转角度大，从而使质量数 不同的离子在此得到分离。若改变粒子的速度或磁场强 度，就可将不同质量数的粒子依次焦聚在出射狭缝上。 通过出射狭缝的离子流，将落在一收集极上，这一离子流 经放大后，即可进行记录，并得到质谱图。 质谱图上信号的强度，与达到收集极上的离子数目成 正比
质谱仪框图如下 进样系忙蓠蕨量芬菥馫予检测 真空系统 还不样品途径 显示记录 信号传输 质谱仪构造框图
14 质谱仪框图如下：
1.真空系统 质谱仪的离子产生及经过系统必须处于高真空状态 (离子源真空度应达1.3×10-4-1.3×105Pa,质 量分析器中应达1.3×10-6Pa)。 若真空度过低,则会造成离子源灯丝损坏, 本底增高、副反应过多,从而使图谱复杂化、干 扰离子源的调节、加速极放电等问题 般质谱仪都采用机械泵预抽空后,再用高 效率扩散泵连续地运行以保持真空。现代质谱仪 采用分子泵可获得更高的真空度
15 1.真空系统 质谱仪的离子产生及经过系统必须处于高真空状态 （离子源真空度应达1.3×10-4-1.3×10-5Pa，质 量分析器中应达1.3×10-6Pa）。 若真空度过低，则会造成离子源灯丝损坏， 本底增高、副反应过多，从而使图谱复杂化、干 扰离子源的调节、加速极放电等问题。 一般质谱仪都采用机械泵预抽空后，再用高 效率扩散泵连续地运行以保持真空。现代质谱仪 采用分子泵可获得更高的真空度